基本信息
| 标准名称： | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 |
| 英文名称： | Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 计算机 >> 计算机应用 |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2007-07-31 |
| 实施日期： | 2008-03-01 |
| 首发日期： | 2007-07-31 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 全国微束标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院化学研究所、中国计量科学研究院 |
| 起草人： | 刘芬、邱丽美、赵良仲、王海、宋小平、沈电洪 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-03-01 |
| 页数： | 16页 |
| 计划单号： | 20068682-T-491 |
适用范围
本标准规定了两种方法，用于测定ＡＥＳ和ＸＰＳ谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。
前言
没有内容
目录
前言Ⅰ 引言Ⅱ 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 符号1 4 方法概要1 5 何时使用本标准2 6 评估强度线性的程序2 附录A (资料性附录) 用谱比率法(方法二)线性测量结果举例8 参考文献10
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
ISO 18115表面化学分析 词汇
所属分类： 电子元器件与信息技术 计算机 计算机应用