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DZ/T 0184.9-1997 14C年龄测定

时间:2024-05-16 05:19:51 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9407
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基本信息
标准名称:14C年龄测定
中标分类: 矿业 >> 矿业综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 体积、质量、密度和粘度的测量
发布日期:
实施日期:2002-09-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:9页
适用范围

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所属分类: 矿业 矿业综合 基础标准与通用方法 计量学和测量 物理现象 体积 质量 密度和粘度的测量
【英文标准名称】:Aluminiumandaluminiumalloys.Anodizing.Measurementofreflectancecharacteristicsofaluminiumsurfacesusingagoniophotometeroranabridgedgoniophotometer
【原文标准名称】:铝和铝合金.阳极氧化.用角度光度计或滤色角度光度计测量铝表面反射特性
【标准号】:BSEN12373-13-2001
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2001-02-15
【实施或试行日期】:2001-02-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:铝;阳极氧化;表面性质;光度计;铝合金;电化学镀覆;角度测量仪;反射系数
【英文主题词】:Alloys;Aluminium;Aluminiumalloys;Anodic;Anodiccoating;Anodicoxidation;Coatings;Definitions;Goniometers;Goniophotometers;Incidenceangles;Inorganic;Inspection;Materialstesting;Measurement;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Metalcoatings;Non-metalliccoatings;Oxidecoatings;Properties;Reflectancefactor;Reflectancemeasurement;Reflection;Reflectioncharacteristics;Refractiveindex;Specularreflection;Surfaces;Testequipment;Testing
【摘要】:ThispartofthisEuropeanStandardspecifiesamethodforthemeasurementofthereflectancecharacteristicsofhigh-glossanodizedaluminiumsurfaces.Themethoddescribedisalsosuitableforthemeasurementofthereflectancecharacteristicsofotherhighglossmetalsurfaces.Themethodisnotsuitablefordiffuse-finishmetalsurfacesanddoesnotmeasurecolour.
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_20;77_120_10
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
英文名称:Polycrystalline silicon-examination method-assessment of sandwiches on cross-section by chemical corrosion
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 4061-1983
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1983-12-20
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:洛阳中硅高科技有限公司
起草人:袁金满
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:8页
计划单号:20064809-T-469
适用范围

本标准规定了以三氯氢硅和四氯化硅为原料在还原炉内用氢气还原出的硅多晶棒的断面夹层化学腐蚀检验方法。
本标准关于断面夹层的检验适用于以三氯氢硅和四氯化硅为原料,以细硅芯为发热体,在还原炉内用氢气还原沉积生长出来的硅多晶棒。

前言

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料